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WGJSTD-A介電常數(shù)及介質損耗測試儀

WGJSTD-A介電常數(shù)及介質損耗測試儀是一款通用的,多用途,多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器,高頻電容器及各種諧振元件的品質因數(shù)(Q值)、電感量、電容量、分布電容、分布電感,也可測量高頻電路組件的有效串、并聯(lián)電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質損耗、介質常數(shù)等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產(chǎn)、科研、品質管理等部門、也是高頻電子和通信實驗

  • 更新時間:2024-05-05
  • 瀏覽次數(shù):938
  • 廠商性質:生產(chǎn)廠家
  • 產(chǎn)   地:上海寶山
產(chǎn)品詳細介紹

特點:

◆     優(yōu)化的測試電路設計使殘值更小

◆     高頻信號采用數(shù)碼調諧器和頻率鎖定技術

◆     LED數(shù)字讀出品質因數(shù),手動/自動量程切換

◆     自動掃描被測件諧振點,標頻單鍵設置和鎖定,大大提高測試速度

信號源頻率范圍

25KHz-50MHz

Q測量范圍

1-999,自動/手動量程切換

信號源頻率覆蓋比

2000 1

Q測量誤差

5%±滿度值的2%

信號源頻率精度

1×10-4±1個字,5位有效數(shù)

Q測量工作誤差

7%±滿度值的2%

電感測量范圍

0.1μH-1000mH

調諧電容

主電容 40-500PF,微調電容±3PF

電感測量誤差

<5%±0.03μH

調諧電容誤差/分辨率

主電容<1%,微調電容0.2pf

標準測試頻點

全波段任意頻率下均可測試

Q合格預置范圍

1-999聲光提示


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