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S916介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試裝置

S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與本公司生產(chǎn)的各款WGJSTD系列介質(zhì)損耗及介電常數(shù)測(cè)試儀配套,可用于測(cè)量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)。S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置是S914的換代產(chǎn)品,它采用了數(shù)顯微測(cè)量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)。

  • 更新時(shí)間:2024-05-05
  • 瀏覽次數(shù):1209
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 產(chǎn)   地:上海寶山
產(chǎn)品詳細(xì)介紹

測(cè)試裝置由一個(gè)LCD數(shù)字顯示微測(cè)量裝置和一對(duì)間距可調(diào)的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測(cè)材料樣品,微測(cè)量裝置則顯示被測(cè)材料樣品的厚度。S916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置須配用WGJSTD系列儀器作為調(diào)諧指示儀器,通過(guò)被測(cè)材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的品質(zhì)因數(shù)值即Q值的變化,測(cè)得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。

技術(shù)特性

1.      平板電容器:

極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選

極片間距可調(diào)范圍:≥15mm

2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×101MHz

4測(cè)微桿分辨率:0.001mm


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